一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應力后，設定環(huán)境應力程度與施加的時間，主要目的是盡可能在短時間內(nèi)，正確評估產(chǎn)品可靠性。

　　常規(guī)電工電子設備環(huán)境試驗項目及檢測標準：

　　1.低溫試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

　　2.高溫試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.2-2008，IEC60068-2-2:2007

　　3.恒定濕熱試驗環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗GB/T2423.3-2006，IEC60068-2-78：2001

　　4.交變濕熱試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱(12h+12h循環(huán))GB/T2423.4-2008，IEC60068-2-30:2005

　　5.振動試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fi:振動混合模式GB/T2423.58-2008，IEC60068-2-80:2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導則GB/T2423.56-2006，IEC60068-2-64:1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc和導則：振動(正弦)GB/T2423.10-2008，IEC60068-2-6:1995

　　6.溫度變化環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化GB/T2423.22-2012，IEC60068-2-14:2009

　　7.溫度/濕度組合循環(huán)環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗GB/T2423.34-2012，IEC60068-2-38:2009

　　8.跌落電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落GB/T2423.8-1995，IEC60068-2-32:1990

　　9.機械沖擊電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊GB/T2423.5-1995，IEC60068-2-27:1987

　　10.碰撞電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞GB/T2423.6-1995，IEC60068-2-29:1987

　　11.傾跌與翻倒電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec和導則:傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品)GB/T2423.7-1995，IEC60068-2-31:1982

　　12.砂塵電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗GB/T2423.37-2006，IEC60068-2-68:1994

　　13.鹽霧人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗GB/T10125-2012，ISO9227:2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ka：鹽霧GB/T2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

　　14.溫度沖擊環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化GB/T2423.22-2012，IEC60068-2-14:2009

　　15.外殼防護外殼防護等級(IP代碼)GB4208-2008，IEC60529:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導則GB/T2423.38-2008，IEC60068-2-18:2000

　　16.低溫/振動(正弦)綜合試驗

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗GB/T2423.35-2005，IEC60068-2-50:1983

　　17.高溫/振動(正弦)綜合試驗

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗GB/T2423.36-2005，IEC60068-2-51:1983

　　18.溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合GB/T2423.59-2008

　　19.(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合GB/T2423.102-2008

　　20.可靠性試驗設備可靠性試驗恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案GB/T5080.7-1986，IEC60605-7:1978設備可靠性試驗恒定失效率假設的有效性檢驗GB/T5080.6-1996，IEC60605-6:1989設備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案GB/T5080.5-1985，IEC60605-5:1982設備可靠性試驗可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法(指數(shù)分布)GB/T5080.4-1985，IEC60605-4:1978可靠性試驗第2部分：試驗周期設計GB/T5080.2-2012，IEC60605-2:1994可靠性試驗第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理GB/T5080.1-2012，IEC60300-3-5:2001

　　實驗室完全按照ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》(CNAS-CL01)《檢測和校準實驗室能力認可準則》)的要求開展測試服務，秉承：管理科學，公平公正;操作規(guī)范，數(shù)據(jù)準確;安全保密，廉潔自律的質(zhì)量方針和第三方公正實驗室的職業(yè)道德，熱誠為國內(nèi)客戶提供標準、檢測、認證工作的全方位服務。