在找碳化硅單晶片檢測機(jī)構(gòu)？百檢網(wǎng)為您提供碳化硅單晶片檢測服務(wù)，專業(yè)工程師對接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案，包括碳化硅單晶片檢測周期、報價、樣品等，確認(rèn)無誤后安排寄樣檢測，碳化硅單晶片檢測常規(guī)周期3-15個工作日，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品、檢測項(xiàng)目除外。

檢測費(fèi)用：根據(jù)檢測項(xiàng)目收費(fèi)，詳情請咨詢百檢網(wǎng)。

碳化硅單晶片檢測項(xiàng)目：

厚度與總厚度變化,微管密度,晶型,直徑,表面粗糙度,表面質(zhì)量

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

碳化硅單晶片檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法 SJ/T 11503-2015

2、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度測試方法 5. 原子力顯微鏡法

3、SJ/T 11501-2015 碳化硅單晶晶型的測試方法

4、GB/T 30866-2014 碳化硅單晶片直徑測試方法

5、GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測試方法 GB/T 30867-2014

6、GB/T 31351-2014 碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

7、SJ/T11504-2015 碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量的測試方法

8、GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度與總厚度變化測試方法

一份檢測報告有什么用?

產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺上架、商超入駐、學(xué)?？蒲刑峁┛陀^的參考。

百檢第三方機(jī)構(gòu)檢測服務(wù)包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項(xiàng)領(lǐng)域檢測服務(wù)，歡迎咨詢。