GB/T2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)列表
GB/T2423.1-2008/IEC60068-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫
GB/T2423.2-2008/IEC60068-2-2-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫
GB/T2423.3-2006/IEC60068-2-78-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.4-2008/IEC60068-2-30-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db交變濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.5-2008/IEC60068-2-27-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則沖擊
GB/T2423.6-1995/IEC60068-2-29-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則碰撞
GB/T2423.7-1995/IEC60068-2-31-1982電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則傾跌和翻倒
GB/T2423.8-1995/IEC60068-2-32-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則自由跌落
GB/T2423.10-2008/IEC60068-2-6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc振動(dòng)（正弦）
GB/T2423.15-2008/IEC60068-2-7-1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)GA和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T2423.16-2008/IEC60068-2-10-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則長(zhǎng)霉
GB/T2423.17-2008/IEC60068-2-11-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)KA鹽霧
GB/T2423.18-2000/IEC60068-2-52-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb交變鹽霧
GB/T2423.21-2008/IEC60068-2-13-1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)M低氣壓試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2008/IEC60068-2-14-1984電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N溫度變化
GB/T2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Q密封
GB/T2423.24-1995/IEC60068-2-5-1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa模擬地面上的太陽(yáng)輻射
GB/T2423.25-2008/IEC60068-2-40-1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM低溫低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.26-2008/IEC60068-2-41-1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BM高溫低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.27-2005/IEC60068-2-39-1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
GB/T2423.28-2005/IEC60068-2-20-1979電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)T錫焊
GB/T2423.30-1999/IEC60068-2-45-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬
GB/T2423.31-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB/T2423.32-2008/IEC60068-2-54-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)TA潤(rùn)濕稱量法可焊性
GB/T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)KCA高濃度二氧化硫試驗(yàn)
GB/T2423.34-2005/IEC60068-2-38-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50-1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFC散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫正弦振動(dòng)綜合試驗(yàn)
GB/T2423.36-2005/IEC60068-2-51-1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFC散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫正弦振動(dòng)綜合試驗(yàn)
GB/T2423.37-2006/IEC60068-2-68-1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L沙塵試驗(yàn)
GB/T2423.38-2008/IEC60068-2-18-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)R水試驗(yàn)和導(dǎo)則
GB/T2423.39-1999/IEC60068-2-55-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ee彈跳
GB/T2423.40-1997/IEC60068-2-66-1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T2423.41-1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法
GB/T2423.42-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T2423.43-2008/IEC60068-2-47-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)的安裝
GB/T2423.45-1997/IEC60068-2-61-1991電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABDM氣候順序
GB/T2423.47-1997/IEC60068-2-65-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fg聲振
GB/T2423.48-2008/IEC60068-2-57-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff振動(dòng)-時(shí)間歷程法
GB/T2423.49-1997/IEC60068-2-59-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe振動(dòng)-正弦拍頻法
GB/T2423.50-1999/IEC60068-2-67-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)
GB/T2423.51-2000/IEC60068-2-67-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T2423.52-2003/IEC60068-2-27-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)77結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊
GB/T2423.53-2005/IEC60068-2-70-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Xb由手的磨擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損
GB/T2423.54-2005/IEC60068-2-74-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Xc流體污染
GB/T2423.55-2006/IEC60068-2-75-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eh錘擊試驗(yàn)
GB/T2423.56-2006/IEC60068-2-64-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則試驗(yàn)
GB/T2423.57-2008/IEC60068-2-81-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ei沖擊沖擊響應(yīng)譜合成
GB/T2423.58-2008/IEC60068-2-80-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fi混合模式振動(dòng)試驗(yàn)
GB/T2423.101-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)傾斜和搖擺
GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)溫度（低溫高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合
若貴公司需要實(shí)施以上項(xiàng)目的試驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)可以致電